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– 提供固定靜態(tài)偏置點(diǎn)進(jìn)行窄脈沖動(dòng)態(tài)IV測(cè)量,滿足準(zhǔn)等溫
測(cè)試條件。
– 實(shí)現(xiàn)器件寄生效應(yīng)的量化測(cè)量與數(shù)據(jù)運(yùn)算。
– 脈寬*小低至200ns。
– 具有內(nèi)部和外部同步能力。
– 脈沖時(shí)序設(shè)置和時(shí)域波形記錄。
– 儀器設(shè)備可與socket&半自動(dòng)探針臺(tái)互聯(lián),進(jìn)行封裝以及晶
圓級(jí)芯片測(cè)試。
– 提供固定靜態(tài)偏置點(diǎn)進(jìn)行窄脈沖動(dòng)態(tài)IV測(cè)量,滿足準(zhǔn)等溫
測(cè)試條件。
– 實(shí)現(xiàn)器件寄生效應(yīng)的量化測(cè)量與數(shù)據(jù)運(yùn)算。
– 脈寬*小低至200ns。
– 具有內(nèi)部和外部同步能力。
– 脈沖時(shí)序設(shè)置和時(shí)域波形記錄。
– 儀器設(shè)備可與socket&半自動(dòng)探針臺(tái)互聯(lián),進(jìn)行封裝以及晶
圓級(jí)芯片測(cè)試。